O Konferencji

Szanowni Państwo,

Z wielką radością pragnę poinformować, że po 4-letniej przerwie spowodowanej pandemią podejmuję działania zmierzające do zorganizowania kolejnej, cyklicznej, XVIII już konferencji pn. „Metrologia w Technikach Wytwarzania”, która będzie zarazem IX-tą konferencją o wymiarze międzynarodowym.

Po prawie 25 latach organizacji tej konferencji podjęła się moja uczelnia - Politechnika Świętokrzyska - reprezentowana przez Katedrę Technologii Mechanicznej i Metrologii, gdyż moje środowisko naukowe organizowało w 1996 r. VI edycję tej konferencji.

Szczególnym powodem zorganizowania w Kielcach tego naukowego spotkania jest to, że w 2022 r. będę obchodził Jubileusz 50-lecia mojej pracy w Politechnice Świętokrzyskiej. Z tego względu konferencja ta będzie podsumowaniem mojej działalności naukowo-dydaktycznej na Uczelni, na której uzyskałem kolejne stopnie naukowe i tytuły profesorskie, będąc zatrudnionym na kolejnych stanowiskach od asystenta stażysty do profesora zwyczajnego, a także pełniąc kolejne uczelniane funkcje od kierownika Zakładu i Katedry, dziekana Wydziału oraz rektora Uczelni.

W trakcie swojej działalności naukowej i organizacyjnej miałem wielką przyjemność współpracować prawie ze wszystkimi uczelniami technicznymi w kraju oraz z wieloma ośrodkami naukowymi w kraju i za granicą, a także z wieloma podmiotami gospodarczymi w zakresie projektowania i wdrażania do produkcji wielu systemów pomiarowych i innowacyjnych procesów technologicznych.

Z wielką radością będę gościł osoby, z którymi współpracowałem i którzy byli uczestnikami ostatnich czterech konferencji. Do tych osób kieruję zaproszenie do udziału w XVIII Krajowej i IX Międzynarodowej Konferencji „Metrologia w Technikach Wytwarzania” i liczę na pozytywną odpowiedź.

Dotychczasowym zwyczajem tej konferencji jest to, że zostaną wydane materiały zawierające wygłoszone referaty z zaznaczeniem, że będzie to wydawnictwo do użytku wewnętrznego (bez ISBN). Natomiast po konferencji Komitet Naukowy zarekomenduje opublikowanie zgłoszonych referatów do odpowiednich wysoko punktowanych czasopism. Dlatego wygłoszone referaty będą mogły być przedstawione w wersji rozszerzonej i powinny być opracowane zgodnie z redakcyjnymi wymaganiami tych czasopism. Do rekomendowanych czasopism należy zaliczyć: Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences, Open Enigeering, Metrology and Measurements Systems, Measurement, Advances in Production Engineering & Management, International Journal of Advanced Manufacturing Technology.

Do zobaczenia na kolejnej Konferencji „Metrologia w Technikach Wytwarzania”.

prof. dr hab. inż. Stanisław Adamczak, dr hc. (multi)
Przewodniczący Komitetu Naukowego Konferencji
Day 1 26.09.2022
  • 09:00 - 14:30 - Registration
  • 10:00 - 13:00 - Session

  • 13:00 - 14:00 - Lunch (self service)

  • 14:00 - 17:30 - Session

  • 19:00 - Gala Dinner

Day 2 27.09.2022
  • 09:00 - 14:30 - Sessions
  • 14:30 - 15:30 - Lunch (self service)

  • 15:30 - Farewell

Topics

  • Aparatura i systemy pomiarowe
  • Metrologia w procesach technologicznych wytwarzania elementów maszyn
  • Metrologia w systemach zapewnienia jakości
  • Pomiary powierzchni w skali makro, mikro i nano
  • Współrzędnościowa technika pomiarowa
  • Techniki pomiarowe w analizie procesów i urządzeń technologicznych
  • Metrologia w różnych obszarach zastosowań w budowie maszyn
  • Techniki wizualizacji i wirtualizacji